Измерение качества поверхности с помощью профилометра

Измерение качества поверхности с помощью профилометра

Назначение:

- определение высот профиля поверхности в выбранном месте исследования в диапазоне размеров от 10 нм до 5 мкм по области размером до 300х300 мкм;

- определение планиметрических линейных размеров объектов на цифровых изображениях;

- регистрация цифровых цветных изображений исследуемых поверхностей с автоматическим проставлением масштабных шкал.

Принцип действия оптического профилометра заключается в том, что свет, излучаемый источником, отражаясь от исследуемой и опорной поверхностей, образует интерференционную картину, которая затем регистрируется видеокамерой. Полученные данные обрабатываются, и набор интерференционных картин преобразуется в карту уровней поверхности высокого разрешения.

Технические характеристики:

Блок регистрации интерференционной картины (МИИ-4)

Модуль регистрации цифровых изображений

Share :